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上海电力大学2023年硕士研究生入学复试课程《 集成电路设计基础 》考试大纲 | |
课程名称 | 集成电路设计基础 |
参考书目 | 李伟华,VLSI设计基础(第三版),北京:电子工业出版社,2 013.6 。 郝跃,微电子概论(第2版),北京:电子工业出版社,2 011 . 6 。 |
复习的总体要求 本课程以硅集成电路为基础,要求全面掌握有关集成电路设计的专业基础知识,重点是集成电路设计概论、M OS 器件原理与特性、C MOS 逻辑部件、M OS 集成电路制造工艺基础、集成电路设计与工艺接口及版图设计基础、晶体管规则阵列设计、集成电路版图设计、单元库设计技术、常用微处理器单元、集成电路测试技术与可测试性技术、模拟单元与变换电路。 | |
主要复习内容 一、 集成电路设计概论 集成电路发展历程、分类、设计方法、主流制造技术、设计开发主流程、常用术语及概念。 二、M OS 器件原理与特性 MOS场效应晶体管的工作原理、电特性、模型和基本模型参数、M OS 器件技术的发展与挑战。 三、 C M OS 逻辑部件 C MOS倒相器设计方法、常见 C MOS逻辑门的原理与设计方法。 四、M OS 集成电路制造工艺基础 集成电路工艺环境、集成电路基本加工工艺、C MOS 基本工艺流程。 五、集成电路设计与工艺接口及版图设计基础 设计与工艺接口问题及工艺对设计的制约、版图设计中电学设计规则与几何设计规则的基础、工艺检查与监控。 六、晶体管规则阵列设计 全 NMOS 结构的 ROM 电路设计及版图、 MOS 晶体管开关逻辑电路及应用、 PLA 电路设计及应用、门阵列电路和版图设计。 七、单元库设计技术 单元库概念、常见标准单元设计(反相器、输入、输出单元)。 八、常用微处理器单元 常用微处理器单元的电路图及工作原理。 九、集成电路测试技术与可测试性技术 集成电路故障模型、测试矢量生成、可测试性技术概念。 十、模拟单元与变换电路 模拟集成电路基本单元、基本偏置电路、放大电路。 |
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